Herramientas de teclado y ratón

Prueba NKRO del teclado

Observe las claves simultáneas y la combinación máxima que recibe su navegador.

Eventos de teclado enfocados conjunto prensado Historial de combinaciones
Local por defecto
Los datos de su prueba se procesan localmente en su navegador y no se cargan.
Ready to test

Simultaneous key observation

This reports the maximum delivered to the browser—not a claim of full N-key rollover.

Currently pressed0
Maximum observed0
Unique keys tested0

Activate the test to begin.

Recent combinations

No multi-key combinations observed yet.

Solución de problemas

Si el resultado no es el que esperabas

1

Manténgase enfocado en la prueba

Las pruebas de entrada capturan eventos solo dentro del área activa claramente marcada.

2

Prueba un puerto directo

Vuelva a conectar los dispositivos cableados sin concentrador y vuelva a probar el mismo control.

3

Comparar otra aplicación

Los atajos del sistema operativo y el filtrado de eventos del navegador pueden ocultar controles que de otro modo funcionarían.

Método

como funciona

  1. Active la zona de prueba y luego mantenga presionadas varias teclas al mismo tiempo.
  2. Observe el conjunto presionado actual y el recuento máximo observado.
  3. Suelte todas las teclas o abandone la prueba para restablecer de forma segura el estado presionado.
Limitaciones del navegador

Lo que este resultado no puede probar

  • Esto no puede probar una transferencia completa de la tecla N porque el sistema operativo y el navegador pueden filtrar combinaciones.
  • El firmware, el tipo de conexión y el comportamiento de la plataforma pueden afectar los resultados observados.
Verifique el soporte del navegador
Sigue comprobando

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Preguntas

Preguntas frecuentes

¿La herramienta «Prueba NKRO del teclado» protege la privacidad?

Sí. La entrada de prueba se procesa en esta pestaña y esta herramienta no la carga.

¿Por qué los resultados del navegador pueden diferir de los de otra aplicación?

Los navegadores, los sistemas operativos, los permisos, el enrutamiento de dispositivos y la carga en segundo plano pueden cambiar lo que se expone y se mide.